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自動(dòng)化元器件檢測(cè)

更新時(shí)間:2019-07-27      點(diǎn)擊次數(shù):1227

背景

被動(dòng)元器件,在5G和新能源車、消費(fèi)類電子產(chǎn)品升級(jí)的帶動(dòng)下,需求量越來越大。MLCC、厚膜電阻等,不管是產(chǎn)品的功率、還是對(duì)小尺寸產(chǎn)品的追求??蛻魧?duì)產(chǎn)線設(shè)備的要求是,高速、高精度,高一致性的測(cè)試設(shè)備。

具體應(yīng)用

根據(jù)被動(dòng)元器件廠家產(chǎn)線的產(chǎn)量及良率要求,高速評(píng)價(jià)元器件特性(L/C/R/Z/Q等),測(cè)試數(shù)據(jù)分等級(jí)批次一次完成。配套測(cè)包機(jī)系統(tǒng),兼顧系統(tǒng)兼容性和小尺寸治具。

使用儀器

LCR IM3536
高頻阻抗分析儀 IM7580系列
微電阻計(jì) RM3545
高阻計(jì) SM7110

  ※記載的內(nèi)容是根據(jù)2018年1月發(fā)行的儀器型號(hào)。產(chǎn)品參數(shù)可能會(huì)有更改,請(qǐng)以現(xiàn)在發(fā)行的為準(zhǔn)。

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