將密度提高 3 倍

當(dāng)生產(chǎn)測(cè)試機(jī)架空間增加且您需要盡量減少增加新測(cè)試機(jī)架的需求時(shí)，與傳統(tǒng) 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機(jī)架區(qū)域中增加更多通道容量。

• 方便堆疊和安放
• 無需增加 1U 隔熱間距
• 相同機(jī)架空間內(nèi)的通道數(shù)提高 3 倍
• 通道數(shù)相同但占用空間減少 3 倍

兼具兩臺(tái) 2602B 的功能

在 1 U 外形中體驗(yàn)相當(dāng)于的 Keithley 2602B 系統(tǒng) SourceMeter 的測(cè)量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數(shù)字 I/O 和 TSP Link 連接器，實(shí)現(xiàn)無縫遷移。

• 0.015% 基本測(cè)量精度
• 6 1/2 位分辨率
• 100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度
• 8 針 Phoenix 模擬和 25 針數(shù)字 I/O 連接器

系統(tǒng)性能提供的生產(chǎn)吞吐量

測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測(cè)試程序，提供優(yōu)異性能。TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試（而不使用主機(jī)）。<500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

• 消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信
• 兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼
• 連接多達(dá) 32 個(gè) TSP-Link 節(jié)點(diǎn)或 64 條獨(dú)立 SMU 通道
• 隨著測(cè)試要求變化輕松重新配置

3D 傳感應(yīng)用的激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測(cè)試

適合激光二極管 (LD) 生產(chǎn)測(cè)試的直流測(cè)試系統(tǒng)，采用高速高精度 SMU 進(jìn)行激光二極管模塊光電二極管電流的電流源和電壓-電流監(jiān)測(cè)。 SMU 是實(shí)惠的 LIV 儀器，系統(tǒng)同步和吞吐量高。

• 可編程電流源可達(dá) 3 A 電流和 100 µs 脈沖寬度
• 電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

LED 的大批量生產(chǎn)測(cè)試

2606B SMU 是的儀器，用于 LED 直流檢定和生產(chǎn)測(cè)試。其可配置為源電流或電壓并結(jié)合 0.015% 基本測(cè)量精度的電壓和電流測(cè)量，滿足各種測(cè)試需求。此外，測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)還具有吞吐量優(yōu)勢(shì)。

• 可編程電流源可達(dá) 3 A 電流和 100 µs 脈沖寬度
• 電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
• 多達(dá) 64 條通道的菊花鏈，實(shí)現(xiàn)大批量并行測(cè)試

使用多通道 SMU 儀器檢定晶體管

憑借其集成源和測(cè)量、電壓或電流、精密度和準(zhǔn)確度，2606B 系統(tǒng) SourceMeter SMU 儀器非常適合測(cè)晶片上或包裝零件內(nèi)的晶體管，包括捕獲漏電波形系列、門限電壓、門電路漏電和跨導(dǎo)。

• 可編程電流源可達(dá) 3 A 電流和 100 µs 脈沖寬度
• 電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 精度 0.015%，6? 位分辨率
• 內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信